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1240-01/-02/-03飛針式在線(xiàn)測(cè)試機(jī)

描述:1240-01/-02/-03飛針式在線(xiàn)測(cè)試機(jī)對(duì)多品種少批量基板提供高速,高精度測(cè)試的解決方案。使用標(biāo)準(zhǔn)配備的4線(xiàn)式低阻測(cè)試功能除檢查IC引腳的開(kāi)焊外,亦可以對(duì)雖電氣導(dǎo)通但接觸不良(虛焊)的引腳潛在不良進(jìn)行測(cè)試。對(duì)使用歷來(lái)的檢查方式難以檢測(cè)的場(chǎng)效應(yīng)管(FET), 繼電器(Relay), 3端子調(diào)節(jié)閥(3 leads regulator)的動(dòng)態(tài)測(cè)試亦可完成??赏ㄟ^(guò)增設(shè)I/O方式對(duì)應(yīng)將來(lái)可能增加的各

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2023-11-12
  • 訪(fǎng)問(wèn)量:1296
產(chǎn)品詳情/ PRODUCT DETAIL

標(biāo)題:1240-01/-02/-03飛針式在線(xiàn)測(cè)試機(jī)

產(chǎn)品概述

 1240-01/-02/-03飛針式在線(xiàn)測(cè)試機(jī)對(duì)多品種少批量基板提供高速,高精度測(cè)試的解決方案。使用標(biāo)準(zhǔn)配備的4線(xiàn)式低阻測(cè)試功能除檢查IC引腳的開(kāi)焊外,亦可以對(duì)雖電氣導(dǎo)通但接觸不良(虛焊)的引腳潛在不良進(jìn)行測(cè)試。對(duì)使用歷來(lái)的檢查方式難以檢測(cè)的場(chǎng)效應(yīng)管(FET), 繼電器(Relay), 3端子調(diào)節(jié)閥(3 leads regulator)的動(dòng)態(tài)測(cè)試亦可完成??赏ㄟ^(guò)增設(shè)I/O方式對(duì)應(yīng)將來(lái)可能增加的各種周邊設(shè)備及特殊測(cè)試要求。

zui適用于檢測(cè)IC引腳的虛焊,對(duì)焊接狀況提供*

1240-01:大型基板的高速檢查(Max40步/秒,510 x 610mm)
1240-02:使用于測(cè)試IC引腳的虛焊(是代替1114的新型號(hào))
1240-03:中型基板的高速檢查(Max40步/秒,400 x 330mm)

● 可測(cè)出IC引腳的*開(kāi)焊和虛焊
● zui高速40步/秒測(cè)試(測(cè)試手臂抬高至2.5mm移動(dòng)時(shí))
● 可通過(guò)更改安全模式進(jìn)行數(shù)據(jù)分級(jí)管理
● 不同型號(hào)之間數(shù)據(jù)自由轉(zhuǎn)換
● 可根據(jù)需要進(jìn)行自行設(shè)定使測(cè)試手臂在不同區(qū)域抬起不同高度,從而在局部避開(kāi)較高的元器件并提高整體的測(cè)試速度極其產(chǎn)能
● 對(duì)應(yīng)大型基板510×460mm (1240-01/-02)
● 對(duì)應(yīng)中型基板400×330mm (1240-03)
● 可選動(dòng)態(tài)測(cè)試:測(cè)試FET(場(chǎng)效應(yīng)管),繼電器的動(dòng)作確認(rèn),3端子調(diào)節(jié)器的工作電壓確認(rèn)

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